225nm窄帶濾光片
注:以上參數(shù)僅供參考，225nm窄帶濾光片參數(shù)指標(biāo)請(qǐng)咨詢我公司的在線客服人員或致電我公司。尺寸：1x1mm~80x80mm或φ4~79mm
厚度：0.4-1.1mm
中心波長(zhǎng)：225nm
峰值透射率：T>85%
半帶寬：20~40nm
截止波長(zhǎng)：300-1100nm
截止深度：<0.1%
(以上為庫(kù)存產(chǎn)品數(shù)據(jù)，我公司也可以接受定制，詳情請(qǐng)咨詢我公司)
相關(guān)名詞解釋
使用注意事項(xiàng)：
1.使用時(shí)請(qǐng)戴好手指套，不要用手指直接觸碰225nm窄帶濾光片表面，以免殘留的手指影響窄帶濾光片通光效果。
2.如225nm窄帶濾光片表面臟時(shí)，可用無(wú)塵沾上酒精擦拭鏡片表面。不可用表面很粗糙的布或紙或沾水擦拭，否則會(huì)損壞225nm窄帶濾光片表面。
3.檢查光路各調(diào)整光軸時(shí)，請(qǐng)一定做好相應(yīng)的防護(hù)。
4.如果用了225nm窄帶濾光片后系統(tǒng)效果還是不好，請(qǐng)把詳細(xì)光路系統(tǒng)告訴我們，我們來(lái)幫您分析原因，讓您少走很多冤枉路。（當(dāng)然，我們會(huì)對(duì)客戶的方案保密，盡可放心！和客戶一起成長(zhǎng)是我們不變的宗旨）。
美國(guó)研究中心研制的線性楔形光譜儀,是由一個(gè)微小模狀濾 光片和一個(gè)陣列檢測(cè)器組成,可以對(duì)多個(gè)光譜頻帶進(jìn)行檢測(cè)。楔形光譜儀內(nèi)有一個(gè)模 形的多層薄膜介質(zhì)材料構(gòu)成的225nm窄帶濾光片,225nm窄帶濾光片與二維檢測(cè)器緊臨,這樣根據(jù)濾光 片在不同位置的帶通,每一列檢測(cè)器可以接受不同光譜波段的能量,所以單獨(dú)一個(gè)模 形光譜儀可以覆蓋很寬的光譜范圍。模形光譜儀的光譜范圍受到濾光片,探測(cè)器材料 特性的限制,還需要使用多種阻擋濾光片。工作光譜范圍分布在可見光和近紅外區(qū)。 該光譜儀在實(shí)驗(yàn)中還獲得了線性色散率,色散率與點(diǎn)帶寬無(wú)關(guān),而且濾光片可以根據(jù) 檢測(cè)器陣列設(shè)計(jì)成不同的幾何形狀。
光學(xué)薄膜角度來(lái)看,最有意義的進(jìn)展是年出現(xiàn)的法布里一帕洛干涉儀,它 己成為225nm窄帶濾光片的一種基本的結(jié)構(gòu)形式。法布里一拍洛濾光片一濾光片是 一種最簡(jiǎn)單也是最常使用的窄帶干涉濾光片,它是在法布里一拍路干涉儀的基礎(chǔ)上經(jīng) 過(guò)改進(jìn)后的型式。自從年出現(xiàn)第一批金屬一介質(zhì)干涉濾光片以來(lái),它已在光學(xué)、 光譜學(xué)、激光、天文物理學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用
日夜兩用濾光片
光學(xué)性能指標(biāo)：T≥90% @ 420nm～630nmT ≤5% @ 680nm～800nmT≥90% @ 850+/-10nmT ≤5% @ 900nm～1100nm
50%中性密度衰減片
50%中性密度衰減片參數(shù)：尺寸范圍：10-100mm可定制厚度：2±0.1密度公差：±2%通光孔徑：>90%
可見光衰減片
可見光衰減片光學(xué)指標(biāo)：截止波段：400~700nm@T=0.001%，0.01%，0.1%，1%，10%，20%，30%，40%，50%，60%，70%，80%，90%。
紫外衰減片
我們生產(chǎn)的紫外衰減片主要有紫外波段：250~400nm@T=0.001%，0.01%，0.1%，1%，10%，20%，30%，40%，50%，60%，70%，80%，90%。應(yīng)用領(lǐng)域:光學(xué)數(shù)碼照相機(jī),攝像機(jī)，各種激光器,1064nm激光器，808nm激…
